|
เครื่องมือวัดความหนาผิวเคลือบ และวิเคราะห์วัสดุ
> FISCHER measuring instruments for coating thickness measurement,
materials analysis, microhardness testing, (X-ray for Gold, RoHS, WEEE and ELV testing)
เครื่องมือวัดความหนาของผิวเคลือบชุบ
> Electromagnetic methods : Pocket gauges, Handheld gauges, Benchtop units, Probes
> X-Ray fluorescence method
> Coulometric method
> Meta-backscattering method
> micro-resistance method
วัดความหนาผิวเคลือบและวิเคราะห์วัสดุ
> X-Ray fluorescence method
เครื่องวัดความแข็งระดับนาโน
> Microhardness measuring instrument
เครื่องวิเคราะห์วัสดุ
> Ferrite content measuring instrument
> Sealing quality test instrument
> Conductivity measuring instrument
> Porosity testing
|